Difracción
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Difracción. Término que proveniente del latín diffractus que significa quebrado. La etimología alude al fenómeno por el que una onda puede contornear un obstáculo en su propagación, alejándose del comportamiento de rayos rectilíneos.
Reseña
La evolución de una onda sigue las leyes impuestas por la ecuación de D'Alembert que determina los fenómenos de difracción. Para el caso de ondas monocromáticas (cualquier onda puede considerarse una superposición de ondas monocromáticas), dicha ecuación se convierte en la ecuación de Helmholtz, de la que se parte para abordar el proceso de cálculo de la amplitud de un campo ondulatorio que en su propagación se encuentra con uno o varios obstáculos.
Características
Difracción, en física, es el fenómeno del movimiento ondulatorio en el que una onda de cualquier tipo se extiende después de pasar junto al borde de un objeto sólido o atravesar una rendija estrecha, en lugar de seguir su avance en línea recta.
La difracción solo se observa si el obstáculo que encuentran las ondas es del mismo orden que la longitud de onda del movimiento ya que cuando es mayor, las ondas siguen la propagación rectilínea.
La expansión de la luz por la difracción origina una borrosidad que limita la capacidad de aumento útil de un microscopio o telescopio. Por ejemplo, los detalles menores de media milésima de milímetro no pueden verse en la mayoría de los microscopios ópticos. Solo un microscopio óptico de barrido de campo cercano puede superar el límite de la difracción y visualizar detalles ligeramente menores que la longitud de onda de la luz.
Experimento de Difracción
La distribución y distancia entre los máximos y mínimos de un diagrama de difracción informan sobre la distancia y distribución de los nodos de la rejilla. En este experimento se hace pasar la luz roja, procedente de un láser, a través de una diapositiva en la que hay varias rejillas dibujadas (figura 30). La longitud de la onda de la luz roja utilizada es de 670 nm.
La primera parte del experimento consiste en observar la simetría de la rejilla afectada a la distribución de los puntos luminosos en el diagrama de difracción. En la segunda parte se determina la distancia entre los puntos en una de la rejillas (la primera de la figura 3) y se mide la distancia entre puntos en el diagrama de difracción.
Si en una experiencia similar se sustituye la diapositiva por las rejillas formada por los átomos de un cristal, y el láser por una fuente de rayos X, cuya longitud de ondas es el orden de las distintas interatómicas (unos Ȧ), se podría determinar, a partir del diagrama de difracción obtenido, la posición de los átomos en el cristal. Esta es la base de la determinación de estructuras cristalinas por difracción de rayos x, una de las técnicas más importante en la química actual.
